干涉条纹的形状、位置、间距以及条纹的对比度，取决于光束在各点的光程差以及光波的光谱分布和光源的大小．因此，利用适当的装置产生一定的干涉图样，观察其中条纹的形状、位置和间距，就可以测定长度、折射率和光的波长。这种方法不断被巧妙地应用于各种特殊的量测上，并且为各种量测目的设计了多种准确而方便的干涉仪。这构成了光干涉应用的一个重要方面。

除了上述测量上的应用外，由于光的干涉而使光强分布改变的现象也有直接的应用。现代镀膜技术的发展便是这方面应用的反映。例如现代较复杂的几何光学仪器中，在透镜或棱镜的折射表面上常镀上增透膜，以减少因反射而损失的光能。又如，利用镀膜技术创造反射率极高的反射镜(这种反射镜可作激光腔的谐振腔镜)或制造其他用途的各种镜片(如干涉滤光片)。